HAST试验，即高加速温湿度应力测试，也被称为高压蒸煮试验。它是一种以温湿度为情形参数的高加速电子元器件可靠性测试要领。HAST试验旨在通过提高测试室中的水蒸气压力至远高于测试样品内部水蒸气分压的高水平，以评估测试样品的耐湿性。
关于HAST测试标准，与高温/高湿测试（85°C/85百分 之 RH）相比，HAST试验由于湿气驱动的侵蚀和更多的绝缘劣化，更易导致组件接触。因此，HAST试验主要适用于塑料密封组件。下表列出了较常见的HAST相关测试标准。值得注重的是，在电子元件通电的情形下举行的测试通常属于不饱和类型。
HAST试验流程
HAST试验的控制方法主要涵盖干湿球温度控制、不饱和控制以及润湿饱和控制三种类型。干湿球温度控制通过专用的干湿球温度传感器，实现对测试室内温度和湿度的直接监测与调控。而润湿饱和控制和不饱和控制则专门用于在100百分 之相对湿度条件下举行测试。
差别控制方法对测试样品上冷凝机制的影响各有特点。当接纳润湿饱和控制举行100百分 之相对湿度条件下的测试时，测试箱加热器将关闭，仅通过控制加湿加热器来维持情形状态。此时的情形条件类似于在无空气的情形中煮沸的水。
相对地，若接纳不饱和控制，翻开的测试室加热器会导致情形爆发稍微的不饱和倾向。
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